由國家納米科學中心牽頭起草的國家標準《納米技術 動態(tài)光散射法粒度分析儀技術要求》正式發(fā)布，并于2025年2月起實施。

2024年7月24日，由國家納米科學中心牽頭，中國計量科學研究院 、北京信立方科技發(fā)展股份有限公司等單位參與起草的國家標準GB/T 44223-2024《納米技術 動態(tài)光散射法粒度分析儀技術要求》正式發(fā)布，并于2025年2月1日起實施。該標準由TC279（全國納米技術標準化技術委員會）歸口 ，主管部門為中國科學院。

隨著納米科技的迅速發(fā)展，納米材料的粒度表征已經(jīng)成為評估材料特性的關鍵指標之一。動態(tài)光散射法粒度分析儀憑借其卓越的測量能力，成為亞微米及納米級顆粒粒度分析的常用儀器。然而，現(xiàn)有的標準和技術規(guī)范體系尚未覆蓋該類儀器的技術要求指標，中國顆粒學會顆粒測試專業(yè)委員會、北京粉體技術協(xié)會相關專家在組織多次粒度儀量值比對活動的基礎上，倡議提出制定針對動態(tài)光散射法粒度分析儀設備性能要求和評價的國家標準，以推動顆粒技術的標準化發(fā)展。

該標準主要介紹了動態(tài)光散射法粒度分析儀的主要技術要求，以及儀器準確性、重復性的試驗方法。

標準主要起草單位包括國家納米科學中心 、中國計量科學研究院 、北京市科學技術研究院分析測試研究所（北京市理化分析測試中心） 、珠海真理光學儀器有限公司 、丹東百特儀器有限公司 、華南師范大學 、濟南微納顆粒儀器股份有限公司 、珠海歐美克儀器有限公司 、合肥鴻蒙標準技術研究院有限公司 、廣州特種承壓設備檢測研究院 、上海思百吉儀器系統(tǒng)有限公司 、冷能（廣東）科技有限公司 、中國計量大學 、山東理工大學 、北京信立方科技發(fā)展股份有限公司 、成都精新粉體測試設備有限公司 、安泰科技股份有限公司 、安東帕（上海）商貿(mào)有限公司 、中國合格評定國家認可中心 、北京粉體技術協(xié)會 、中國顆粒學會 。

聲明：本文所用文字來源網(wǎng)絡，版權歸原作者所有。如涉及作品內(nèi)容、版權等問題，請與本網(wǎng)聯(lián)系。